EXPOSÉS & CONFÉRENCES
Le Collège Français de Métrologie, animera lors de cette nouvelle édition de Mesures Solutions EXPO, un cycle de conférences sur des sujets en phase avec les besoins industriels.
PLUS D'INFOS : www.cfmetrologie.com I info@cfmetrologie.com
Programme 2026
Pour s'inscrire gratuitement à une ou plusieurs conférence(s)/exposé(s) techniques(s) et recevoir les rappels pour ne pas les manquer !
Heure
Intervenant
Thème
Durée
10h00
TRIOPTICS
Exposé technique
30 min
10h00
CCI Algéro Française
Conférence
50 min
10h45
THERMOCONCEPT
Exposé technique
30 min
11h30
GEMESIS
Exposé technique
30 min
12h00
VEGA
Exposé technique
30 min
12h-14h
CETIAT
Visite de laboratoires
Visite de certains laboratoires du CETIAT sur inscription préalable uniquement auprès de metrologie@cetiat.fr (une collation vous sera proposée).
13h30
JM CONCEPT
Exposé technique
30 min
14h15
ENVEA
Exposé technique
30 min
15h00
SEREM ELECTRONICS
Exposé technique
30 min
15h45
OROS Digital
Exposé technique
30 min
16h30
DURAG
Conférence
30 min
17h00
DELTAMU
Exposé technique
30 min
17h15
CHROMATOTEC
Conférence
30 min
Jeudi 15 octobre 2026
Heure
Intervenant
Thème
Durée
10h00
CETIAT
Exposé technique
Comment mieux évaluer les performances réelles des instruments en conditions d’utilisation dynamiques ?
30 min
10h00
Table-ronde
Conférence
Les besoins de recrutement dans les métiers de la mesure.
Être acteur de la protection de l'environnement et des personnes.
50 min
10h45
PRECITEC
Exposé technique
Trois technologies de mesure d’épaisseur sans contact : avantages, limites et intégration en production.
30 min
11h00
CFM
Conférence
Analyse de gaz - les problématiques métrologiques des analyseurs
60 min
11h30
Photon Lines SAS
Exposé technique
Le comptage à haute vitesse, par IA, avec étude de spectres en amont. Une technologie conçue pour les larves, mais universelle pour n'importe quel produit défilant sur un convoyeur.
30 min
12h00
BEAMEX
Exposé technique
Comment transformer les étalonnages calendaires en levier de productivité.
30 min
13h30
NERYS
Exposé technique
Traitement de l’information dans les systèmes de mesure : du modèle statistique simple à l’IA, quels choix pour l’industrie ?
30 min
14h00
CFM
Conférence et Table-ronde
Conférence introductive - Panel des technologies de mesures dimensionnelles (20min) // Table-ronde : l'évolution des technologies de mesure dimensionnelles - vers des mesures de plus en plus fiables ?"
60 min
14h15
HEITRONICS
Exposé technique
Mesure des températures des gaz d’échappement dans les processus d’incinération.
30 min
15h00
Waranet
Exposé technique
Prise en compte du rayonnement selon la FD X15-140 (2024) : quel impact réel sur la cartographie et les incertitudes ?
30 min
15h15
Club SPE GIMELEC
Conférence
Le SPE (Single Pair Ethernet) : nouveau modèle de transmission data au service du Jumeau Numérique
60 min
15h45
Polytec
Exposé technique
Dans quelle mesure la vibrométrie laser sans contact peut‑elle améliorer la fiabilité de la détection, de la localisation et de la caractérisation des défauts ?
30 min
Retrouvez-nous les 14 et 15 octobre 2026
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